8 ಇಂಚಿನ ಸಿಲಿಕಾನ್ ವೇಫರ್ P/N-ಟೈಪ್ (100) 1-100Ω ಡಮ್ಮಿ ರಿಕ್ಲೈಮ್ ಸಬ್‌ಸ್ಟ್ರೇಟ್

ಸಣ್ಣ ವಿವರಣೆ:

ಡಬಲ್ ಸೈಡೆಡ್ ಪಾಲಿಶ್ ಮಾಡಿದ ವೇಫರ್‌ಗಳ ದೊಡ್ಡ ದಾಸ್ತಾನು, 50 ರಿಂದ 400 ಮಿಮೀ ವ್ಯಾಸದ ಎಲ್ಲಾ ವೇಫರ್‌ಗಳು ನಮ್ಮ ದಾಸ್ತಾನುಗಳಲ್ಲಿ ನಿಮ್ಮ ವಿವರಣೆ ಲಭ್ಯವಿಲ್ಲದಿದ್ದರೆ, ಯಾವುದೇ ವಿಶಿಷ್ಟ ನಿರ್ದಿಷ್ಟತೆಗೆ ಸರಿಹೊಂದುವಂತೆ ಕಸ್ಟಮ್ ಫ್ಯಾಬ್ರಿಕೇಟ್ ವೇಫರ್‌ಗಳನ್ನು ಮಾಡಲು ಸಾಧ್ಯವಾಗುವ ಅನೇಕ ಪೂರೈಕೆದಾರರೊಂದಿಗೆ ನಾವು ದೀರ್ಘಾವಧಿಯ ಸಂಬಂಧಗಳನ್ನು ಸ್ಥಾಪಿಸಿದ್ದೇವೆ.ಅರೆವಾಹಕ ಉದ್ಯಮದಲ್ಲಿ ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಬಳಸುವ ಸಿಲಿಕಾನ್, ಗಾಜು ಮತ್ತು ಇತರ ವಸ್ತುಗಳಿಗೆ ಡಬಲ್-ಸೈಡೆಡ್ ಪಾಲಿಶ್ ಮಾಡಿದ ಬಿಲ್ಲೆಗಳನ್ನು ಬಳಸಬಹುದು.

ನಮಗೆ ಇಮೇಲ್ ಕಳುಹಿಸಿ

ಉತ್ಪನ್ನದ ವಿವರ

ಉತ್ಪನ್ನ ಟ್ಯಾಗ್ಗಳು

ವೇಫರ್ ಬಾಕ್ಸ್ನ ಪರಿಚಯ

8-ಇಂಚಿನ ಸಿಲಿಕಾನ್ ವೇಫರ್ ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಬಳಸುವ ಸಿಲಿಕಾನ್ ತಲಾಧಾರದ ವಸ್ತುವಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಇದನ್ನು ಸಮಗ್ರ ಸರ್ಕ್ಯೂಟ್‌ಗಳ ಉತ್ಪಾದನಾ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ವ್ಯಾಪಕವಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.ಮೈಕ್ರೊಪ್ರೊಸೆಸರ್‌ಗಳು, ಮೆಮೊರಿ ಚಿಪ್‌ಗಳು, ಸಂವೇದಕಗಳು ಮತ್ತು ಇತರ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ ಸಾಧನಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಂತೆ ವಿವಿಧ ರೀತಿಯ ಇಂಟಿಗ್ರೇಟೆಡ್ ಸರ್ಕ್ಯೂಟ್‌ಗಳನ್ನು ತಯಾರಿಸಲು ಇಂತಹ ಸಿಲಿಕಾನ್ ವೇಫರ್‌ಗಳನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.8-ಇಂಚಿನ ಸಿಲಿಕಾನ್ ವೇಫರ್‌ಗಳನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ತುಲನಾತ್ಮಕವಾಗಿ ದೊಡ್ಡ ಗಾತ್ರದ ಚಿಪ್‌ಗಳನ್ನು ತಯಾರಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ, ದೊಡ್ಡ ಮೇಲ್ಮೈ ವಿಸ್ತೀರ್ಣ ಮತ್ತು ಒಂದೇ ಸಿಲಿಕಾನ್ ವೇಫರ್‌ನಲ್ಲಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ಚಿಪ್‌ಗಳನ್ನು ಮಾಡುವ ಸಾಮರ್ಥ್ಯ ಸೇರಿದಂತೆ ಅನುಕೂಲಗಳು ಹೆಚ್ಚಿದ ಉತ್ಪಾದನಾ ದಕ್ಷತೆಗೆ ಕಾರಣವಾಗುತ್ತವೆ.8-ಇಂಚಿನ ಸಿಲಿಕಾನ್ ವೇಫರ್ ಉತ್ತಮ ಯಾಂತ್ರಿಕ ಮತ್ತು ರಾಸಾಯನಿಕ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ, ಇದು ದೊಡ್ಡ ಪ್ರಮಾಣದ ಇಂಟಿಗ್ರೇಟೆಡ್ ಸರ್ಕ್ಯೂಟ್ ಉತ್ಪಾದನೆಗೆ ಸೂಕ್ತವಾಗಿದೆ.

ಉತ್ಪನ್ನ ಲಕ್ಷಣಗಳು

8" P/N ಪ್ರಕಾರ, ನಯಗೊಳಿಸಿದ ಸಿಲಿಕಾನ್ ವೇಫರ್ (25 ಪಿಸಿಗಳು)

ದೃಷ್ಟಿಕೋನ: 200

ಪ್ರತಿರೋಧಕತೆ: 0.1 - 40 ohm•cm (ಇದು ಬ್ಯಾಚ್‌ನಿಂದ ಬ್ಯಾಚ್‌ಗೆ ಬದಲಾಗಬಹುದು)

ದಪ್ಪ: 725+/-20um

ಪ್ರೈಮ್/ಮಾನಿಟರ್/ಟೆಸ್ಟ್ ಗ್ರೇಡ್

ವಸ್ತು ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳು

ಪ್ಯಾರಾಮೀಟರ್	ಗುಣಲಕ್ಷಣ
ವಿಧ/ಡೋಪಾಂಟ್	ಪಿ, ಬೋರಾನ್ ಎನ್, ಫಾಸ್ಫರಸ್ ಎನ್, ಆಂಟಿಮನಿ ಎನ್, ಆರ್ಸೆನಿಕ್
ದೃಷ್ಟಿಕೋನಗಳು	<100>, <111> ಸ್ಲೈಸ್ ಆಫ್ ಓರಿಯೆಂಟೇಶನ್ಸ್ ಪ್ರತಿ ಗ್ರಾಹಕರ ವಿಶೇಷಣಗಳು
ಆಮ್ಲಜನಕದ ವಿಷಯ	10¹⁹ppmA ಗ್ರಾಹಕನ ನಿರ್ದಿಷ್ಟತೆಯ ಪ್ರತಿ ಕಸ್ಟಮ್ ಸಹಿಷ್ಣುತೆಗಳು
ಕಾರ್ಬನ್ ವಿಷಯ	< 0.6 ppmA

ಯಾಂತ್ರಿಕ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳು

ಪ್ಯಾರಾಮೀಟರ್	ಪ್ರಧಾನ	ಮಾನಿಟರ್/ಪರೀಕ್ಷೆ ಎ	ಪರೀಕ್ಷೆ
ವ್ಯಾಸ	200 ± 0.2mm	200 ± 0.2mm	200 ± 0.5 ಮಿಮೀ
ದಪ್ಪ	725±20µm (ಪ್ರಮಾಣಿತ)	725±25µm(ಪ್ರಮಾಣಿತ) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (ಪ್ರಮಾಣಿತ)
ಟಿಟಿವಿ	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
ಬಿಲ್ಲು	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
ಸುತ್ತು	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
ಎಡ್ಜ್ ರೌಂಡಿಂಗ್	SEMI-STD
ಗುರುತು ಹಾಕುವುದು	ಪ್ರಾಥಮಿಕ SEMI-ಫ್ಲಾಟ್ ಮಾತ್ರ, SEMI-STD ಫ್ಲಾಟ್‌ಗಳು ಜೀದಾ ಫ್ಲಾಟ್, ನಾಚ್

ಪ್ಯಾರಾಮೀಟರ್	ಪ್ರಧಾನ	ಮಾನಿಟರ್/ಪರೀಕ್ಷೆ ಎ	ಪರೀಕ್ಷೆ
ಮುಂಭಾಗದ ಬದಿಯ ಮಾನದಂಡ
ಮೇಲ್ಮೈ ಸ್ಥಿತಿ	ರಾಸಾಯನಿಕ ಮೆಕ್ಯಾನಿಕಲ್ ಪಾಲಿಶ್ ಮಾಡಲಾಗಿದೆ	ರಾಸಾಯನಿಕ ಮೆಕ್ಯಾನಿಕಲ್ ಪಾಲಿಶ್ ಮಾಡಲಾಗಿದೆ	ರಾಸಾಯನಿಕ ಮೆಕ್ಯಾನಿಕಲ್ ಪಾಲಿಶ್ ಮಾಡಲಾಗಿದೆ
ಮೇಲ್ಮೈ ಬಿರುಸು	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
ಮಾಲಿನ್ಯ ಕಣಗಳು@ >0.3 µm	= 20	= 20	= 30
ಮಬ್ಬು, ಹೊಂಡ ಕಿತ್ತಳೆ ಸಿಪ್ಪೆ	ಯಾವುದೂ	ಯಾವುದೂ	ಯಾವುದೂ
ಸಾ, ಮಾರ್ಕ್ಸ್ ಸ್ಟ್ರೈಶನ್ಸ್	ಯಾವುದೂ	ಯಾವುದೂ	ಯಾವುದೂ
ಬ್ಯಾಕ್ ಸೈಡ್ ಮಾನದಂಡಗಳು
ಬಿರುಕುಗಳು, ಕ್ರೌಸ್‌ಫೀಟ್, ಗರಗಸದ ಗುರುತುಗಳು, ಕಲೆಗಳು	ಯಾವುದೂ	ಯಾವುದೂ	ಯಾವುದೂ
ಮೇಲ್ಮೈ ಸ್ಥಿತಿ	ಕಾಸ್ಟಿಕ್ ಎಚ್ಚಣೆ